試験器LNA(低雑音アンプ)

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製品写真(外形図)

試験器 LNA(低雑音アンプ) MAP301/302

製品のPRポイント

▪上記2種類以外にも製作可能ですのでお問合せください。

メーカ名 マイクロニクス
取扱店
型名/シリーズ MAP301/302
通称 LNA(低雑音アンプ)
試験器タイプ EMI
周波数 Hz START 100.0k
周波数 Hz END 3.0G
周波数設定
周波数表示
メモリ
電圧測定誤差 ±dB
指示モード
電源 W
寸法H mm 125
寸法W mm 260
寸法L mm 220
重量 kg 2.5
機能 ▪NF(代表値):3.5dB
▪利得(公称値):MAP301@50dB、MAP302@20dB
▪P1dB(代表値):MAP301@+8dBm、MAP302@+12dBm
特長 ▪放射エミッション測定のアンプに最適
▪MAP301:ループアンテナMAN120とセットでCISPR25の放射エミッション測定が可能
▪MAP302:バイコニカルアンテナMAN150とセットで放射エミッション測定が可能
▪スペクトラムアナライザのプリアンプとしても最適
主な用途 ▪放射エミッション測定
  • 本表・項目名はCENDが独自に構成した物であり、いかなる理由においても全部または一部の無断利用・転載を禁止します。

企業詳細情報

会社名 マイクロニクス株式会社
所在地 〒193-0934
東京都八王子市小比企町2987-2
問合せ先 営業事業部
TEL:042-637-3667
FAX:042-637-0227