試験器LNA（低雑音アンプ）

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製品写真（外形図）

試験器 LNA（低雑音アンプ） MAP302

製品のPRポイント

▪30MHz～3GHzの放射エミッション測定に適している

メーカ名 マイクロニクス
取扱店
型名／シリーズ MAP302
通称 LNA（低雑音アンプ）
試験器タイプ EMI
周波数 Hz START 20.0M
周波数 Hz END 3.0G
周波数設定
周波数表示
メモリ
電圧測定誤差 ±dB
指示モード
電源 W
寸法H mm 125
寸法W mm 260
寸法L mm 220
重量 kg 2.4
機能 ▪NF：3.5dB （代表値）
▪利得：20dB （公称値）
▪P1dB：+12dBm（代表値）
特長 ▪放射エミッション測定のアンプに最適
▪バイコニカルアンテナMAN150とセットで放射エミッション測定が可能
▪スペクトラムアナライザのプリアンプとしても最適
主な用途 ▪放射エミッション測定
  • 本表・項目名はCENDが独自に構成した物であり、いかなる理由においても全部または一部の無断利用・転載を禁止します。

企業詳細情報

会社名 マイクロニクス株式会社
所在地 〒193-0934
東京都八王子市小比企町2987-2
問合せ先 営業事業部
TEL：042-637-3667
FAX：042-637-0227